1. 使用初期的故障
以光電開關(guān)、接近開關(guān)等為主體的檢測開關(guān)，半導(dǎo)體一般會在使用初期發(fā)生故障。
其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。
2. 偶發(fā)故障
包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí)，可以考慮為使用環(huán)境的問題，可向碩方詢問相關(guān)。
3. 負(fù)荷短路與配線錯誤
由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測開關(guān)，輸出回路燒毀。作為在檢測開關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對策，可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法，通過熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對地線有保護(hù)作用。但是，由于開關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到100[%]的效果。
4. 干擾波導(dǎo)致的破損
由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時(shí)，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時(shí)發(fā)生的檢測開關(guān)的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的。 |
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